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半导体特性分析系统


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半导体特性分析系统

资产编号: / 型号规格: 4200-SCS 生产厂商: Keithley
所属单位: 平板显示实验室 放置地点: 1楼南区测试间 国家: /
负责人A: 陈荣 负责人B: 乐建避 负责人C: /
性能指标:

1、直流电流-电压(I-V) 范围:10 aA - 1A,0.2 µV - 210 V 。
2、电容-电压(C-V) 范围:1 kHz - 10 MHz,± 30V 直流偏置。
3、脉冲 I-V范围:±40 V(80 V p-p),±800 mA,200 MSa/s,5 ns 采样率。

主要应用:

使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 最高性能参数分析仪,提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。

样品要求:

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仪器说明:

4200-SCS 是一种可以量身定制、全面集成 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为高性能的参数分析仪, 4200-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。

操作规范:

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收费标准:

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设备图片:




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